ZetaYODA —— Yield & Operation Data Analyzer
提供快速、高效、准确的个性化数据管理平台
帮助Fabless整合从IP集成、晶圆生产、封装、测试等过程中各种不同数据（Wafer/Die/Chip），减少多达80%的数据整理时间；同时也提供了对多产品多版本，以及新产品导入的工作流管理，从而快速定位问题，改善产品，提升良率与效率。
一键式
高效率
全生命周期
标准化
降本增效
多类型大规模测试数据自动集成，支持map/csv/stdf/log/klarf等，易操作可快速准确定位设计和生产过程中的缺陷，自动生成并发布报告。
集数据集成、数据分析和专业工具于一体的系统，可在芯片设计、晶圆制造、封装测试等过程中收集数据进行分析，帮助工程师快速定位问题并及时解决。
以lot在生产制造阶段的数据为核心，外延至销售与采购（原料）数据、外包加工数据、封装测试数据等等，同时还支持用户对指定lot/指定类型lot进行关注，实时接收lot数据更新报告，为基于lot的良率分析与追踪提供了良好的数据基础和功能服务基础。
整合芯片制造环节的业务系统数据，沉淀数据资产，各系统数据高效关联分析，平台自动生成报表和看板，节约手工制图的人力和时间成本，形成标准的工作流管理。
无需额外的硬件或资源，能够更有效地帮助处于起步阶段的芯片设计公司进行数据分析，同时支持云端或者本地部署，更好的适应业务发展的需求。
完善的分析平台
通过全面的数据联通，设计问题系统追溯，使研发人员不仅更快找到根因问题，更能预防其他类似的问题。
一站式数据集成
能够取得从IP集成到Wafer/Die/Chip生产、测试和现场使用期间各种不同数据。
优化研发管理效率
通过全面整合、管理、分析半导体产线数据，快速导入新工艺或新产品，快速定位问题，快速对各种参数进行修正。
以最大程度地控制和可视化您的产品良率
简化决策
流程优化
提升效率
降低成本
满足客户交付周期
降低精确追踪成本
我们的解决方案
新材料，新设计，衍生新的数据整合期望
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点亮数据灯塔 开启智造之门
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